R&D
Key Technology
끊임없는 기술 개발을 향한 도전
Automation 및 Vision 분야 선도 기술을 보유하고 있습니다.
HITS만의 특화된 보유 기술
| Field | Technology | Description |
|---|---|---|
| Semiconductor | DW-AVI System | W/D, D/A 공정 상의 2D 고속 검사 / 3D Height 측정 |
| Semiconductor | Mold AOI System | Mold 외관 검사 |
| Semiconductor | F/C Bonding Auto Loader & Unloader | PCB & Jig Vision Alignment & Auto Loading |
| Semiconductor | Module Inline System | Automatic Module Test Handler / 전산자동화 |
| Semiconductor | Packing Inline Automated System | Tray / Reel Packing 물류자동화 / 전산자동화 |
| Semiconductor | Wafer 3D Measuring System | Wafer Thickness 측정 |
| Semiconductor | TSV 3D Measuring System | Via-hole, A/R 3D 측정 |
| Semiconductor | NIR Crack Inspection System | (M/Z to M/Z) FCBGA TOP/BTM NIR 비전 Crack 검사 |
| Semiconductor | SWIR Defect Inspection System | (M/Z to M/Z, Tray to Tray) FCBGA SWIR 비전 Crack 검사 |
| Display (Film, LCD, OLED) | Film Auto Attach & Surface Inspection | MOF, Prism, Diffuser, Polarizer 필름 검사 |
| Display (Film, LCD, OLED) | Copper Foil Surface Inspection System | Copper 표면 검사 |
| Display (Film, LCD, OLED) | Glass Surface Inspection System | Glass Cutting면, 표면, 미세 크랙 등 비전 검사 |
| Display (Film, LCD, OLED) | Lighting Inspection System | Panel 점등 시 불량 화소 검사 및 Repair 좌표 측정 |
| Display (Film, LCD, OLED) | BLU_CG Attach System | 특허 |
| Secondary Battery | Battery Surface Inspection System | 용접 품질, 표면 검사 |
| Secondary Battery | Battery Film Surface Inspection System | 권취기 상에서의 Laser Notching 상태 품질 검사 |
HITS 특허인증서
특허로 보호 받는 HITS 기술
| Field | Title | Type |
|---|---|---|
| Display | Line Scan Camera를 이용한 LCD 패널의 에지면 검사방법 | 특허 |
| Display | LCD 패널의 측면 검사 장치 및 방법 | 특허 |
| Display | LCD 셀의 에지 검사 장치 | 실용신안 |
| Display | LCD Edge Grinder Vision Program | 프로그램등록 |
| Display | LCD Edge면의 Burr, Chipping, Broken 등 Vision Program | 프로그램등록 |
| Display | LCD Cell Inspection Vision System | 국제특허 |
| Display | 권취기에서의 자재 검사 시스템 | 특허출원중 |
| Display | Probe 이용한 높이 측정 시스템 | 특허출원중 |
| Display | POP Mold 검사 시스템 | 특허출원중 |
| Display | POP Mold 조명 시스템 | 특허출원중 |
| Semiconductor | 반도체 Ball attach & PRS Vision Program | 프로그램등록 |
| Semiconductor | 반도체 Marking Inspection Vision Program | 프로그램등록 |
| Semiconductor | 반도체 패키지검사 시스템 및 반도체 패키지검사 시스템에 의한 검사방법 | 특허 |
| Semiconductor | 와이어본딩 검사 장치 | 특허 |
| Semiconductor | Semiconductor Package Inspection System and Inspection Method Using Semiconductor Inspection System | 국제특허 |
| Semiconductor | 반도체 JEDEC Tray Inline Packing 장비 및 방법 | 특허출원중 |
| Semiconductor | 반도체 7" / 13" Reel Packing 장비 및 방법 | 특허출원중 |
| Other | 평형기관의 장애 여부를 자동으로 측정하는 장치 및 방법 | 실용신안 |